Abstrak
Studi ini memberikan dukungan statistik untuk perbandingan spektral X-ray Fluorescence (XRF) menggunakan ukuran kesamaan kuantitatif. Satu set pita listrik yang berasal dari gulungan yang berbeda (94 gulungan, 24 merek, 54 jenis produk, empat negara pembuatan) dan subset tambahan yang berasal dari sumber yang sama (20 sampel dari gulungan yang sama) dikarakterisasi melalui XRF. Derau dalam spektrum difilter menggunakan Fast Fourier Transform, dan garis dasar dikoreksi menggunakan regresi tertimbang turunan kedua–terkendala. Kemudian, rasio sudut kontras spektral (SCAR) dihitung untuk setiap perbandingan berpasangan ( n  = 4561). Metrik SCAR dapat menangkap informasi tentang variabilitas antara sampel yang dibandingkan dan variabilitas dalam sampel sumber yang sama. Berdasarkan ukuran itu, ambang batas yang meminimalkan asosiasi atau pengecualian yang salah diusulkan. Selain itu, SCAR digunakan untuk mengklasifikasikan sampel menggunakan analisis kluster. Pendekatan otomatis untuk perbandingan sampel yang memanfaatkan algoritma hutan acak membantu dalam mengidentifikasi dasar untuk persamaan atau perbedaan antara spektrum yang dibandingkan. Studi ini menjelaskan pendekatan yang lebih objektif untuk melaporkan opini dan penentuan probabilistik data spektral yang dapat digunakan sebagai model untuk bidang dan material lain. Penggunaan metrik SCAR dapat mendukung proses pengambilan keputusan pemeriksa forensik dan menambah transparansi dalam berbagai cara.